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JRE 2214 屏蔽测试外壳

JRE 2214

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美国
厂家:JRE Test

更新时间:2024-09-10 13:43:23

型号: JRE 2214 1 to 6 GHz, RF Shielded Test Enclosure

概述

JRE 2214 RF Shielded Test Enclosure是一个低剖面、具备大量I/O连接能力的射频测试外壳,提供卓越的RF屏蔽效果和多种接口选项。

参数

  • 配置 / Configuration : Fixed
  • 包装类型 / Package Type : Stand Alone
  • 开放类型 / Opening Type : Top
  • 分庭 / Chambers : Single Chamber
  • 频率 / Frequency : 1 to 6 GHz
  • 隔离/绝缘 / Isolation/Insulation : -100 to -85 dB
  • 应用 / Applications : Wi-Fi, WLAN, 3G
  • 运行 / Operation : Manual

应用

1. 射频测试 2. 电磁兼容性测试 3. 设备接口测试

特征

1. 双接触门护罩确保可重复测量 2. 3/4英寸厚的RF吸收泡沫减弱驻波 3. 重型不锈钢铰链和支撑杆 4. 多种连接器选项 5. 包含80mm通风选项,AC或DC风扇可选

详述

JRE 2214 RF Shielded Test Enclosure是专为射频测试而设计的高效设备,具有低剖面和多种I/O连接选项。它的内部尺寸为3.75x20.5x12.5英寸,外部尺寸为5.25x22x14英寸,采用坚固的铝制焊接结构,确保了长期的使用寿命和优异的RF屏蔽效果。该产品的隔离度在不同频率下表现出色,能够满足各种射频测试需求。用户可以根据需要选择不同的I/O板选项,快速配置测试外壳,确保测试过程的高效与准确。此外,JRE还提供了定制服务,能够根据客户的具体需求设计适合的连接器和接口,确保用户的测试需求得到充分满足。无论是在实验室还是在现场,JRE 2214都能为射频测试提供理想的解决方案。

图片集

JRE 2214图1
JRE 2214图2

规格书

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厂家介绍

其它

智推产品: JRE 2215 RF Shielded Test Enclosure JRE 2216 RF Shielded Test Enclosure
产品标签: 射频测试 电磁兼容性 屏蔽外壳 I/O接口 低剖面设计

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