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53100A
标签：
射频测试 高频测量 相位噪声分析仪 精密测量
简介：
Multi-Function Phase Noise Analyzer from 1 to 200 MHz
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概述
53100A相位噪声分析仪用于高性能射频源的幅度、相位和频率稳定性测量，支持1 MHz到200 MHz的载波频率，适用于多种应用场景。
参数
- 类型 / Type : Modular
- 频率 / Frequency : 1 to 200 MHz
- 交叉相关分析 / Cross-Correlation Analysis : Yes
- 相位噪声下限（1 赫兹） / Phase Noise Floor (1 Hz) : -135 dBm/Hz
- 相位本底噪声（1 千赫兹） / Phase Noise Floor (1 KHz) : -165 dBm/Hz
- 相位噪声下限（10 赫兹） / Phase Noise Floor (10 Hz) : -145 dBm/Hz
- 相位本底噪声（10 千赫兹） / Phase Noise Floor (10 KHz) : -170 dBm/Hz
- 相位噪声下限（100 赫兹） / Phase Noise Floor (100 Hz) : -155 dBm/Hz
- 相位本底噪声（100 千赫兹） / Phase Noise Floor (100 KHz) : -170 dBm/Hz
- 偏移分析范围 / Offset Analysis Range : 0.001 Hz to 1 MHz
- 输入功率范围 / Input Power Range : -5 to 15 dBm
- 射频连接器 / RF Connector : N Type - Male, BNC - Female, SMA - Male
- 尺寸 / Dimension : 13.5 x 8.5 x 3.6 inches(344 x 215 x 91 mm)
应用
1. 高性能射频源的稳定性测试 2. 嵌入式测试系统 3. 实验室基准测试 4. 设备性能验证
特征
1. 独立输入和参考频率从1到200 MHz 2. 无需相位锁定或测量校准 3. 单个或双重参考振荡器输入允许交叉相关测量 4. 直观的图形界面使用户能够快速开始测量 5. 实时相位和频率差的“条形图”显示
详述
53100A相位噪声分析仪是一款用于高性能射频源的测试仪器，能够精确测量幅度、相位和频率的稳定性。其支持的频率范围从1 MHz到200 MHz，适合多种应用场景，如实验室基准测试和嵌入式测试系统。该仪器具备快速而准确的单边带相位噪声和Allan偏差测量，且无需相位锁定或测量校准，极大地提高了测试效率。53100A相位噪声分析仪的设计和制造工艺的提升，使其在可靠性和性能上优于前代产品，成为射频测试领域的理想选择。无论是在实验室中还是嵌入到机架式自动测试设备中，53100A都能提供卓越的性能和用户友好的操作体验。
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