TS-900e-5G Series

分类：射频测试设备

厂家： Marvin Test Solutions

产地：美国

型号： TS-900e-5G Series

更新时间： 2025-12-10T18:50:29.000Z

标签：

[object Object] [object Object] [object Object] [object Object] [object Object]

简介：

PXIe 5G mmWave Semiconductor Production Test Systems

立即咨询

获取报价

下载规格书

概述
规格参数
应用
特征
详述内容
规格书
厂家介绍
其它

概述

TS-900e-5G mmWave生产测试系统，专为高性能半导体设备的测试和表征而设计，支持高达44 GHz的信号传输并兼容53 GHz的VNA RF测试能力。

参数

技术 / Technology : 5G
特点 / Features : Intel Core i7, 2.4 GHz, single slot controller 4x4 PCIe bus configuration 8 GB of RAM
集成 / Integrations : Vector Network Analyzer
连接器 / Connector : BNC
尺寸 / Dimension : TS-900e-5G: 24" D x 22" W x 17" H, TS-900eX-5G: 24" D x 39" W x 35" H
重量 / Weight : TS-900e-5G: 125 lbs, TS-900eX-5G: 250 lbs
电源电压 / Supply Voltage : -2 to 7 V
工作温度 / Operating Temperature : 0 to 50 Degree C
存储温度 / Storage Temperature : -20 to 60 Degree C

应用

1. mmWave封装和晶圆设备测试/表征 2. 试点生产和重点生产测试 3. 自动化故障分析和测试

特征

1. 包含Keysight VNA仪器 2. 动态和静态数字I/O 3. 多通道SMU电源 4. 系统自测试功能 5. 兼容多种探针站和设备处理器

详述

TS-900e-5G mmWave生产测试系统是专为高性能半导体设备设计的测试解决方案，能够提供高达44 GHz的信号传输，并支持高达53 GHz的VNA RF测试。该系统适用于多种应用，包括mmWave封装和晶圆设备的测试与表征。系统的设计充分考虑了生产环境的需求，支持多达40个独立的VNA端口，具备并行、多站点测试能力。通过Keysight的模块化矢量网络分析仪，TS-900e-5G提供卓越的RF测量性能和重复性，确保在整个测试频段内的相位和幅度测量精度。此外，系统还包含了丰富的软件开发工具，支持快速的测试开发和故障分析，是现代半导体生产和测试的理想选择。

规格书

下载规格书

厂家介绍

其它

智推产品： TS-900eX-5G毫米波生产测试系统

加载中....