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Multi |Z| Probe
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简介：
100 to 500 um, GSG, GS, SS Probe from DC to 25 GHz
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概述
高频晶圆探针，具有高达16个RF通道的灵活性，适用于多端口RF测量和数字测量。
参数
- 配置 / Configuration : GSG
- 配置 / Configuration : GS
- 配置 / Configuration : SS
- 频率 / Frequency : DC to 25 GHz
- 螺距范围 / Pitch Range : 100 to 500 um
- 阻抗 / Impedance : 50 Ohms
- 连接器 / Connector : SMP, SMP - Male, SMA, SMA - Female
- 接触电阻 / Contact Resistance : 30 mOhms
- 终生达阵 / Lifetime Touchdowns : 1, 000
应用
1. 多端口RF晶圆级测试 2. 高频探测 3. 数字应用测试
特征
1. 准确的多端口测量 2. 仅此探针可支持高达16个RF线路 3. 低接触电阻 4. 灵活性高，支持RF/DC混合信号测试 5. 耐久性强，接触寿命超过1000000次
详述
Multi |Z| Probe是一款高频晶圆探针，能够支持多达16个RF通道，非常适合在多端口RF测量中使用。它的设计不仅提供了稳定的接触和极长的使用寿命，而且其低接触电阻确保了高精度的测量。该探针可以灵活地进行RF和DC信号的混合测试，减少了对昂贵探针卡的需求，提升了测试的经济性和灵活性。 Multi |Z| Probe的接触弹簧设计能够轻松克服高达50μm的垫片高度差异，确保了可靠的测试性能。无论是在生产还是研发阶段，该探针都能提供最高的精度和灵活性，成为高频探测的理想选择。
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厂家介绍
FormFactor, Inc. 是集成电路整个生命周期（从特性分析、建模、可靠性和设计除错到鉴定和生产测试）测试和测量技术的领先供应商。半导体公司依靠他们的产品和服务，通过优化器件性能和提高产量知识来加速盈利能力。
其它
智推产品：
高频连接器
射频滤波器
功率分配器
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制造商
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