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Series 7840
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简介:
RF Probe up to 4 GHz
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概述
高频测试探头由内外导体组成,优化设计用于高频信号的传输,具有低损耗和高精度。
参数
- 频率 / Frequency : Up to 4 GHz
- 阻抗 / Impedance : 50 Ohms
- 回波损耗 / Return Loss : 1 to 10 dB
- 直流电流 / DC Current : 3 to 10 A
- 应用 / Application : Automotive, Radio, Medical, Test & Measurement
- 接触电阻 / Contact Resistance : 2 to 15 mOhms
应用
1. 汽车技术,特别是车载娱乐/信息系统 2. 天线技术 3. 无线电和电信 4. 医疗技术 5. 实验室和测量工程
特征
1. 集成测试适配器,节省时间 2. 弹簧接触,低损耗 3. 高精度,适应多次测试 4. 可更换内导体
详述
高频测试探头是专为满足高频信号传输需求而设计的设备,采用内外导体的同轴结构,有效抑制电磁辐射和寄生感应。其紧凑的设计使其适合在空间受限的环境中进行高频测量。该探头能够在多个领域中应用,包括汽车技术、无线电和电信、医疗技术等。通过与测试适配器的集成,用户可以显著提高测试效率,减少手动组装的时间。高频测试探头的可更换内导体设计也使得其在多次测试中保持高精度和低损耗,确保信号的高质量传输。无论是在实验室还是在生产线上,这些探头都能为用户提供可靠的性能和出色的测量结果。
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