TITAN™ Multi-Contact Probe

分类：射频探头

厂家： MPI Corporation

型号： TITAN™ Multi-Contact Probe

更新时间： 2025-12-11T22:37:50.000Z

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简介：

Multi-Contact Probe from DC to 6 GHz for RFIC Testing

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概述

TITAN™ Multi-Contact Probe利用MPI专有的TITAN™射频探测技术，用于射频集成电路的特性表征。它最多可配置15个接触点，可以单独配置为射频、逻辑信号和射频集成电路的旁路电源。所有这些都具有TITAN™探针技术的全部优势：卓越的阻抗匹配、电气特性、独特的探头可见性和无与伦比的使用寿命。此外，TITAN™多接触探针是同类产品中最短的。它能够在屏蔽环境中对大型集成电路进行宽温度范围的特性表征，并支持最具挑战性的测试配置。

参数

配置 / Configuration : GSG
配置 / Configuration : GS
配置 / Configuration : SGS
频率 / Frequency : DC to 6 GHz
螺距范围 / Pitch Range : 50 to 300 µm
标准节距台阶 / Standard Pitch Step : 25 µm and 50 µm
插入损耗 / Insertion Loss : 3 to 5 dB
回波损耗 / Return Loss : 10 dB
直流电压 / DC Voltage : 50 V / 300 V
直流电流 / DC Current : 1.2 A
接触电阻 / Contact Resistance : 45 mOhm
工作温度 / Operating Temperature : -40 to 150 Degrees C

应用

1. 射频集成电路测试 2. 高速数字电路测试 3. 现代多级功率放大器的电源和控制 4. 小垫片探测

特征

1. TITAN™ MEMS接触点完美匹配射频通道 2. 独特的探头可见性，使用方便 3. 6 GHz带宽和最多15个接触点，提供准确的测试结果 4. 最短的同类探针，便于大型集成电路的特性表征 5. 超过100万次接触，降低测试成本 6. 定制生产，交货周期短

详述

TITAN™ Multi-Contact Probe是一款专为射频集成电路设计的高性能探针，具有最多15个可配置接触点，能够满足多种测试需求。这款探针提供出色的阻抗匹配和电气特性，确保在不同温度范围内的可靠测试。其独特的设计使得探头可见性极佳，便于在小垫片上进行快速、准确的对齐和数据采集。探针的使用寿命超过100万次接触，大幅降低了测试成本。无论是在高速数字电路测试，还是在现代多级功率放大器的电源控制方面，TITAN™ Multi-Contact Probe都能提供准确、重复和可靠的测试结果。其短小的设计使得在屏蔽环境中对大型集成电路进行特性表征变得更加简单高效，是射频测试领域中的理想选择。

规格书

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厂家介绍

MPI 公司成立于 1995 年，总部位于台湾新竹，是半导体、发光二极管 (LED)、光电探测器、激光器、材料研究、航空航天、汽车、光纤、电子元件等领域的全球技术领导者。MPI 的四大业务领域包括探针卡、光子自动化、高级半导体测试和热测试。他们提供四大产品系列，包括探针卡、测试仪、分拣机和 AOI 系统。 MPI 高级半导体测试部门提供各种手动、半自动和全自动工程探头系统、26 至 220 GHz 的射频探头以及独特的射频校准软件 QAlibria®。主要应用包括射频和毫米波、用于建模和工艺开发的器件表征、大功率、晶圆级可靠性、故障分析、集成电路工程和设计验证、硅光子学等。

其它

智推产品： TITAN™ RF Probe 高频连接器多路功率分配器

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