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Cantilever
简介:
40 um Pitch Probe Card
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参数
- 间距 / Pitch : 40 um
- 特点 / Features : Supports 40 um pitch, 20/40 um staggered design, Short-beam option for high speed testing, up to 3 GHz @-3 dB, Uniform scrub performance for improved wire bond reliability
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厂家介绍
FormFactor, Inc. 是集成电路整个生命周期(从特性分析、建模、可靠性和设计除错到鉴定和生产测试)测试和测量技术的领先供应商。半导体公司依靠他们的产品和服务,通过优化器件性能和提高产量知识来加速盈利能力。
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