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CM300xi-SiPh
简介：
300 mm Semi-/ Fully-automated Probe System with Autonomous Silicon Photonics Measurement Assistant
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参数
- 卡盘尺寸 / Chuck Size : 300 mm
- 查克-西塔粗旅行 / Chuck Theta Coarse Travel : ±3.75 Degrees
- 卡盘行程范围 / Chuck Travel Range : 301 x 501 mm
- 查克旅行决议 / Chuck Travel Resolution : 0.2 µm
- 频率 / Frequency : DC to 2.5 Hz
- 直径 / Diameter : 305 mm
- 材料 / Material : Nickel
- 材料 / Material : Gold Plated Aluminum
- 测量类型 / Measurements Type : DC
- 测量类型 / Measurements Type : RF
- 显微镜移动分辨率 / Microscope Travel Resolution : 0.2 µm
- 显微镜移动范围 / Microsope Movement Range : 10 mm
- 连接器 / Connectors : BNC
- 类型 / Type : Manual
- 卡盘至压盘高度 / Chuck To Platen Height : 43 mm
- 范围提升 / Scope Lift : 0.2 µm (0.008 mils)
- 重量 / Weight : 47 kg
- 工作温度 / Operating Temperature : -60 to 300 Degree C
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厂家介绍
FormFactor, Inc. 是集成电路整个生命周期（从特性分析、建模、可靠性和设计除错到鉴定和生产测试）测试和测量技术的领先供应商。半导体公司依靠他们的产品和服务，通过优化器件性能和提高产量知识来加速盈利能力。
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