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SUMMIT200
简介：
Semi/Fully-Automated Probe System for DC/RF/mmWave/THz Applications
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参数
- 卡盘尺寸 / Chuck Size : 200 mm
- Chuck Planarity / Chuck Planarity : ±10 um
- 查克-西塔粗旅行 / Chuck Theta Coarse Travel : ±7.5 Degree
- 卡盘行程范围 / Chuck Travel Range : 203 x 203 mm
- 查克旅行决议 / Chuck Travel Resolution : 0.2 µm
- 频率 / Frequency : DC to 1 GHz
- 材料 / Material : Stainless steel
- 测量类型 / Measurements Type : DC
- 测量类型 / Measurements Type : RF
- 显微镜移动分辨率 / Microscope Travel Resolution : 1 µm
- 显微镜移动范围 / Microsope Movement Range : 35 mm
- 连接器 / Connectors : BNC
- 探针台尺寸 / Probe Station Dimensions : 74.5 x 63.5 x 20 mm
- 类型 / Type : Automatic
- 类型 / Type : Manual
- 工作温度 / Operating Temperature : -55 to 200 Degree C
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厂家介绍
FormFactor, Inc. 是集成电路整个生命周期（从特性分析、建模、可靠性和设计除错到鉴定和生产测试）测试和测量技术的领先供应商。半导体公司依靠他们的产品和服务，通过优化器件性能和提高产量知识来加速盈利能力。
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