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WL - 250
简介:
200 mm Semi-Automatic Probe System For reliable and accurate RF-mmW-THz, DC/CV, and High Power Test Measurements
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参数
- 卡盘尺寸 / Chuck Size : 200 mm
- 查克-西塔粗旅行 / Chuck Theta Coarse Travel : ±7.5 Degree
- Chuck Theta 精细分辨率 / Chuck Theta Fine Resolution : ±0.000035 Degree
- 卡盘行程范围 / Chuck Travel Range : 205 x 205 mm
- 查克旅行决议 / Chuck Travel Resolution : 0.5 µm
- Chuck Z 精确分辨率 / Chuck Z Fine Resolution : 0.25 µm
- 卡盘温度 / Chuck Temperature : -60 to 300 Degree C
- Chuck Z-Motion 系列 / Chuck Z-Motion Range : 12.5 mm
- 频率 / Frequency : Up to 110 GHz
- 当前 / Current : 600 A
- 直径 / Diameter : 203 mm
- 材料 / Material : Nickel Plated Steel
- 测量类型 / Measurements Type : DC
- 测量类型 / Measurements Type : RF
- 显微镜移动分辨率 / Microscope Travel Resolution : 0.02 µm
- 显微镜移动范围 / Microsope Movement Range : 2 x 2 Inches
- 直流定位器数量 / Number Of DC Positioners : 2x, 4x, 10x
- 射频定位器数量 / Number Of RF Positioners : 4x, 2x
- 连接器 / Connectors : BNC, BNC - Female
- 压盘温度 / Platen Temperature : 15 to 40 Degree C
- 探针台尺寸 / Probe Station Dimensions : 580 x 637 x 12.7 mm (L x W x H)
- 类型 / Type : Semi Automatic
- 真空孔截面 / Vacuum Hole Sections : 22 mm, 50 mm, 91 mm, 135 mm, 168 mm
- 应用 / Applications : Test & Measurement
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