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  • TS200-SE 探针台和系统
    TS200-SE
    分类：探针台和系统
    厂商：MPI Corporation
    卡盘尺寸: 200 mm Chuck Planarity: ±10 um 查克-西塔粗旅行: ±360 Degree Chuck Theta 精细分辨率: ±7.5 x 10-3 Degrees 卡盘行程范围: 225 x 260 mm
  • TS200 探针台和系统
    TS200
    分类：探针台和系统
    厂商：MPI Corporation
    卡盘尺寸: 200 mm Chuck Planarity: ±10 um 查克-西塔粗旅行: ±360 Degree Chuck Theta 精细分辨率: ±7.5 x 10-3 Degrees 卡盘行程范围: 240 x 315 mm
  • TS150-THZ 探针台和系统
    TS150-THZ
    分类：探针台和系统
    厂商：MPI Corporation
    卡盘尺寸: 150 mm Chuck Planarity: ±10 um 查克-西塔粗旅行: ±360 Degree Chuck Theta 精细分辨率: ±7.5 x 10-3 Degrees 卡盘行程范围: 180 x 300 mm
  • TS150 探针台和系统
    TS150
    分类：探针台和系统
    厂商：MPI Corporation
    卡盘尺寸: 150 mm Chuck Planarity: ±10 um 查克-西塔粗旅行: ±360 Degree Chuck Theta 精细分辨率: ±7.5 x 10-3 Degrees 卡盘行程范围: 180 x 230 mm
  • SA-6 探针台和系统
    SA-6
    美国
    分类：探针台和系统
    厂商：SemiProbe
    卡盘尺寸: 150 mm Chuck Planarity: ±6 µm 查克-西塔粗旅行: ±4 Degrees 卡盘行程范围: 155 x 155 mm 查克旅行决议: 0.1 µm
  • SA-4 探针台和系统
    SA-4
    美国
    分类：探针台和系统
    厂商：SemiProbe
    卡盘尺寸: 100 mm Chuck Planarity: ±6 µm 查克-西塔粗旅行: ±4 Degrees 卡盘行程范围: 105 x 105 mm 查克旅行决议: 0.1 µm
  • SA-12 探针台和系统
    SA-12
    美国
    分类：探针台和系统
    厂商：SemiProbe
    卡盘尺寸: 300 mm Chuck Planarity: ±6 µm 查克-西塔粗旅行: ±4 Degrees 卡盘行程范围: 305 x 305 mm 查克旅行决议: 0.1 µm
  • M8 探针台和系统
    M8
    美国
    分类：探针台和系统
    厂商：SemiProbe
    卡盘尺寸: 200 mm 查克-西塔粗旅行: ±10 to 360 Degrees 卡盘行程范围: 900 x 650 x 750 mm 查克旅行决议: 5 µm 材料: Aluminum
  • M6 探针台和系统
    M6
    美国
    分类：探针台和系统
    厂商：SemiProbe
    卡盘尺寸: 150 mm 查克-西塔粗旅行: ±10 to 360 Degrees 卡盘行程范围: 900 x 650 x 750 mm 查克旅行决议: 5 µm 材料: Aluminum
  • M4 探针台和系统
    M4
    美国
    分类：探针台和系统
    厂商：SemiProbe
    卡盘尺寸: 100 mm 查克-西塔粗旅行: ±10 to 360 Degrees 卡盘行程范围: 900 x 650 x 750 mm 查克旅行决议: 5 µm 材料: Aluminum
  • M12 探针台和系统
    M12
    美国
    分类：探针台和系统
    厂商：SemiProbe
    卡盘尺寸: 300 mm 查克-西塔粗旅行: ±10 to 360 Degrees 卡盘行程范围: 1200 x 650 x 900 mm 查克旅行决议: 5 µm 材料: Aluminum
  • FA-6 探针台和系统
    FA-6
    美国
    分类：探针台和系统
    厂商：SemiProbe
    卡盘尺寸: 150 mm Chuck Planarity: ±8 µm 查克-西塔粗旅行: ±4 Degrees 卡盘行程范围: 155 x 155 mm 查克旅行决议: 0.1 µm
  • FA-4 探针台和系统
    FA-4
    美国
    分类：探针台和系统
    厂商：SemiProbe
    卡盘尺寸: 100 mm Chuck Planarity: ±8 µm 查克-西塔粗旅行: ±4 Degrees 卡盘行程范围: 105 x 105 mm 查克旅行决议: 0.1 µm
  • WL - 250 探针台和系统
    WL - 250
    美国
    分类：探针台和系统
    厂商：Signatone Corporation
    卡盘尺寸: 200 mm 查克-西塔粗旅行: ±7.5 Degree Chuck Theta 精细分辨率: ±0.000035 Degree 卡盘行程范围: 205 x 205 mm 查克旅行决议: 0.5 µm
  • WL-210 探针台和系统
    WL-210
    美国
    分类：探针台和系统
    厂商：Signatone Corporation
    卡盘尺寸: 200 mm 查克-西塔粗旅行: ±11 Degree Chuck Theta 精细分辨率: ±0.01 mm 卡盘行程范围: 205 x 205 mm 查克旅行决议: 1.5 to 14 µm
  • WL-170 探针台和系统
    WL-170
    美国
    分类：探针台和系统
    厂商：Signatone Corporation
    卡盘尺寸: 200 mm 查克-西塔粗旅行: ±360 Degree Chuck Theta 精细分辨率: ±1.5 x 10?5 Degrees 卡盘行程范围: 203 x 203 mm 查克旅行决议: 75 µm
  • WL-1160 探针台和系统
    WL-1160
    美国
    分类：探针台和系统
    厂商：Signatone Corporation
    卡盘尺寸: 150 mm Chuck Planarity: ±10 um 查克-西塔粗旅行: ±360 Degree Chuck Theta 精细分辨率: ±1.5 x 10?5 Degrees 卡盘行程范围: 203 x 203 mm
  • EB-6V 探针台和系统
    EB-6V
    分类：探针台和系统
    厂商：Everbeing Int’l Corp.
    卡盘尺寸: 150 mm Chuck Planarity: ±3 µm 查克-西塔粗旅行: ±360 Degrees Chuck Theta 精细分辨率: ±0.01 Degree 卡盘行程范围: 152.4 x 152.4 mm
  • EB 探针台和系统
    EB
    分类：探针台和系统
    厂商：Everbeing Int’l Corp.
    卡盘尺寸: 150 mm Chuck Planarity: ±3 µm 查克-西塔粗旅行: ±20 Degrees Chuck Theta 精细分辨率: ±0.01 Degree 卡盘行程范围: 152.4 x 152.4 mm
  • CG-196 探针台和系统
    CG-196
    分类：探针台和系统
    厂商：Everbeing Int’l Corp.
    卡盘尺寸: 80 mm 测量类型: DC 测量类型: RF 显微镜眼罩: 20x 显微镜放大范围: 14x - 90x