the design of cmos radio-frequency integrated circuits by thomas h lee【参数，厂家，图片，选型】-射频网

TS300-SE

分类：探针台和系统

厂商：MPI Corporation

卡盘尺寸: 300 mm Chuck Planarity: ±10 um 查克-西塔粗旅行: ±360 Degree Chuck Theta 精细分辨率: ±7.5 x 10-3 Degrees 卡盘行程范围: 325 x 325 mm

TS300

分类：探针台和系统

厂商：MPI Corporation

卡盘尺寸: 300 mm Chuck Planarity: ±10 um 查克-西塔粗旅行: ±360 Degree Chuck Theta 精细分辨率: ±7.5 x 10-3 Degrees 卡盘行程范围: 330 x 420 mm

TS200-SE

分类：探针台和系统

厂商：MPI Corporation

卡盘尺寸: 200 mm Chuck Planarity: ±10 um 查克-西塔粗旅行: ±360 Degree Chuck Theta 精细分辨率: ±7.5 x 10-3 Degrees 卡盘行程范围: 225 x 260 mm

TS200

分类：探针台和系统

厂商：MPI Corporation

卡盘尺寸: 200 mm Chuck Planarity: ±10 um 查克-西塔粗旅行: ±360 Degree Chuck Theta 精细分辨率: ±7.5 x 10-3 Degrees 卡盘行程范围: 240 x 315 mm

TS150-THZ

分类：探针台和系统

厂商：MPI Corporation

卡盘尺寸: 150 mm Chuck Planarity: ±10 um 查克-西塔粗旅行: ±360 Degree Chuck Theta 精细分辨率: ±7.5 x 10-3 Degrees 卡盘行程范围: 180 x 300 mm

TS150

分类：探针台和系统

厂商：MPI Corporation

卡盘尺寸: 150 mm Chuck Planarity: ±10 um 查克-西塔粗旅行: ±360 Degree Chuck Theta 精细分辨率: ±7.5 x 10-3 Degrees 卡盘行程范围: 180 x 230 mm

SA-6

美国

分类：探针台和系统

厂商：SemiProbe

卡盘尺寸: 150 mm Chuck Planarity: ±6 µm 查克-西塔粗旅行: ±4 Degrees 卡盘行程范围: 155 x 155 mm 查克旅行决议: 0.1 µm

SA-4

美国

分类：探针台和系统

厂商：SemiProbe

卡盘尺寸: 100 mm Chuck Planarity: ±6 µm 查克-西塔粗旅行: ±4 Degrees 卡盘行程范围: 105 x 105 mm 查克旅行决议: 0.1 µm

SA-12

美国

分类：探针台和系统

厂商：SemiProbe

卡盘尺寸: 300 mm Chuck Planarity: ±6 µm 查克-西塔粗旅行: ±4 Degrees 卡盘行程范围: 305 x 305 mm 查克旅行决议: 0.1 µm

M8

美国

分类：探针台和系统

厂商：SemiProbe

卡盘尺寸: 200 mm 查克-西塔粗旅行: ±10 to 360 Degrees 卡盘行程范围: 900 x 650 x 750 mm 查克旅行决议: 5 µm 材料: Aluminum

M6

美国

分类：探针台和系统

厂商：SemiProbe

卡盘尺寸: 150 mm 查克-西塔粗旅行: ±10 to 360 Degrees 卡盘行程范围: 900 x 650 x 750 mm 查克旅行决议: 5 µm 材料: Aluminum

M4

美国

分类：探针台和系统

厂商：SemiProbe

卡盘尺寸: 100 mm 查克-西塔粗旅行: ±10 to 360 Degrees 卡盘行程范围: 900 x 650 x 750 mm 查克旅行决议: 5 µm 材料: Aluminum

M12

美国

分类：探针台和系统

厂商：SemiProbe

卡盘尺寸: 300 mm 查克-西塔粗旅行: ±10 to 360 Degrees 卡盘行程范围: 1200 x 650 x 900 mm 查克旅行决议: 5 µm 材料: Aluminum

FA-6

美国

分类：探针台和系统

厂商：SemiProbe

卡盘尺寸: 150 mm Chuck Planarity: ±8 µm 查克-西塔粗旅行: ±4 Degrees 卡盘行程范围: 155 x 155 mm 查克旅行决议: 0.1 µm

FA-4

美国

分类：探针台和系统

厂商：SemiProbe

卡盘尺寸: 100 mm Chuck Planarity: ±8 µm 查克-西塔粗旅行: ±4 Degrees 卡盘行程范围: 105 x 105 mm 查克旅行决议: 0.1 µm

WL - 250

美国

分类：探针台和系统

厂商：Signatone Corporation

卡盘尺寸: 200 mm 查克-西塔粗旅行: ±7.5 Degree Chuck Theta 精细分辨率: ±0.000035 Degree 卡盘行程范围: 205 x 205 mm 查克旅行决议: 0.5 µm

WL-210

美国

分类：探针台和系统

厂商：Signatone Corporation

卡盘尺寸: 200 mm 查克-西塔粗旅行: ±11 Degree Chuck Theta 精细分辨率: ±0.01 mm 卡盘行程范围: 205 x 205 mm 查克旅行决议: 1.5 to 14 µm

WL-170

美国

分类：探针台和系统

厂商：Signatone Corporation

卡盘尺寸: 200 mm 查克-西塔粗旅行: ±360 Degree Chuck Theta 精细分辨率: ±1.5 x 10?5 Degrees 卡盘行程范围: 203 x 203 mm 查克旅行决议: 75 µm

WL-1160

美国

分类：探针台和系统

厂商：Signatone Corporation

卡盘尺寸: 150 mm Chuck Planarity: ±10 um 查克-西塔粗旅行: ±360 Degree Chuck Theta 精细分辨率: ±1.5 x 10?5 Degrees 卡盘行程范围: 203 x 203 mm

EB-6V

分类：探针台和系统

厂商：Everbeing Int’l Corp.

卡盘尺寸: 150 mm Chuck Planarity: ±3 µm 查克-西塔粗旅行: ±360 Degrees Chuck Theta 精细分辨率: ±0.01 Degree 卡盘行程范围: 152.4 x 152.4 mm