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分类：探针台和系统卡盘尺寸: 150 mm Chuck Planarity: ±3 µm 查克-西塔粗旅行: ±20 Degrees Chuck Theta 精细分辨率: ±0.01 Degree 卡盘行程范围: 152.4 x 152.4 mm -
分类：探针台和系统卡盘尺寸: 80 mm 测量类型: DC 测量类型: RF 显微镜眼罩: 20x 显微镜放大范围: 14x - 90x -
分类：探针台和系统卡盘尺寸: 150 mm Chuck Planarity: ±3 µm 查克-西塔粗旅行: ±360 Degrees 卡盘行程范围: 152.4 x 152.4 mm Chuck Z 精确分辨率: 1 µm -
分类：探针台和系统卡盘尺寸: 150 mm Chuck Planarity: ±3 µm 查克-西塔粗旅行: ±360 Degrees Chuck Theta 精细分辨率: ±0.01 Degree 卡盘行程范围: 152.4 x 152.4 mm -
卡盘尺寸: 200 mm Chuck Planarity: ±10 um 查克-西塔粗旅行: ±7.5 Degree 卡盘行程范围: 203 x 203 mm 查克旅行决议: 0.2 µm -
卡盘尺寸: 200 mm Chuck Planarity: ±10 um 查克-西塔粗旅行: ±5.5 to 5.7 Degrees 卡盘行程范围: 203 x 203 mm 查克旅行决议: 1 µm -
卡盘尺寸: 200 mm 查克-西塔粗旅行: ±6 Degree 卡盘行程范围: 200 x 200 mm 查克旅行决议: 1 µm 频率: DC to 1 KHz -
卡盘尺寸: 300 mm Chuck Planarity: ±8 µm 查克-西塔粗旅行: ±8 Degrees 卡盘行程范围: 300 x 300 mm 直径: 300 mm -
卡盘尺寸: 200 mm Chuck Planarity: ±10 um 卡盘行程范围: 205 x 205 mm 查克旅行决议: 0.5 µm 材料: Aluminum -
卡盘尺寸: 150 mm Chuck Planarity: ±10 um 查克-西塔粗旅行: ±360 Degrees Chuck Theta 精细分辨率: ± 8 Degree 卡盘行程范围: 155 x 155 mm -
卡盘尺寸: 200 mm 频率: 40 to 67 GHz 测量类型: RF 显微镜眼罩: 20x 显微镜放大范围: 150x -
卡盘尺寸: 200 mm Chuck Planarity: ±3 µm 卡盘行程范围: 200 mm 频率: Up to 110 GHz 测量类型: RF -
卡盘尺寸: 300 mm 查克-西塔粗旅行: ±3.75 Degrees 卡盘行程范围: 301 x 501 mm 查克旅行决议: 0.2 µm 直径: 305 mm -
卡盘尺寸: 300 mm 查克-西塔粗旅行: ±3.75 Degrees 卡盘行程范围: 301 x 501 mm 查克旅行决议: 0.2 µm 频率: DC to 2.5 Hz -
卡盘尺寸: 300 mm 查克-西塔粗旅行: ±3.75 Degrees 卡盘行程范围: 301 x 501 mm 查克旅行决议: 0.2 µm 频率: DC to 2.5 Hz -
频率: Upto 500 GHz 类型: Automatic 应用: 5G, Test & Measurement, Autonomous driving and Wi-Fi -
频率: 170 to 220 GHz 类型: Automatic 类型: Manual 应用: 5G, 6G 工作温度: -60 to 125 Degree C -
卡盘尺寸: 11 to 200 mm Chuck Planarity: ±10 um 卡盘行程范围: 11 to 200 mm 材料: Stainless Steel 测量类型: DC -
特点: Suitable formuli-die test, including peripheral pad layout, Best suited to measuring higher density, higher speed logic and SoC devices -
应用: WLCSP 特点: Best suited to one-touchdown testing of 12-inch wafers (NAND Flash) as well as WLCSP applications